在所有 FISCHER 測量儀器中，BETASCOPE 提供最多的材料組合種類。透過部署 β 射線 (電子)，BETASCOPE 不需要仰賴樣本的磁性或電子特性來測量塗層厚度。因此，它幾乎可測量任何基質類型上的任何類型層的塗層厚度，只要塗層與基質間的原子數相差至少為 5 即可。BETASCOPE 實作為 MMS PC2 通用測量系統的插入式模組，能夠與許多其他的測量技巧結合，同時還能利用 MMS PC2 的優點。

 

特性：

 

利用 β 射線反向散射法進行非破壞性測量

幾乎可測量任何塗層與基質組合

不需任何特殊準備便能測量；測量僅需數秒

測量不需任何化學物質或耗材

測量符合 DIN EN ISO 3543 和 ASTM B567a 標準

以 MMS PC2 通用測量系統的插入式模組實作

提供多種輔助選項

應用領域：

 

奈米塗層

太陽能電池塗層

單電鍍層

任何基質類型上的有機塗層

防腐蝕塗層，例如金屬生產與製程業所用的油

箔片、紡織品、布料與其他有機材料