在電鍍或電子產品製程中，若要快速且非常精準地測定塗層厚度，XUL® 系列的測量儀器絕對是您的首選解決方案。X 射線螢光儀器採用由下而上的測量方式，因此可輕鬆定位測量台上的樣品。此系列的所有 X 射線儀器均配備相同的偵測器。您可以根據個別的測量作業，選擇不同的光圈、濾光鏡和 X 射線管。

特性：

測量室空間寬廣且測量方向是由下而上，所以能簡單且快速地定位樣品 (大型樣品亦然)，如組裝印刷電路板或軟性 PCB

硬體選擇豐富多樣，因此適用於多種測量作業

選配微聚焦 X 射線管，適用於直徑不到 100 µm 的小型結構和測量表面

應用：

鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑膠製品

防腐蝕塗層，如鋼材上的鍍鋅層

電路板和彈性 PCB 上的塗層

插頭和電氣接點上的接觸面

電鍍槽分析