MCP-T700 低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型)

MCP-T700

低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型)

Loresta-GX

廠牌:三菱化學ANALYTECH CO.,LTD.
供應商:南北貿易有限公司 日本三菱化學ANALYTECH CO.,LTD.
聯絡電話:04-22994269
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低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型)-行動條碼QR Code

 

 

 

低阻抗率計GP MCP-T610型

商品規格

商品名稱:

低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型)
Loresta-GX

特色:

維持安定之高品質,依據世界唯一之四探針理論之高精度之阻抗率計
單體使用系統構築,用於生產技術、品質管理、研究開發

適用對象:

導電性油漆、導電性漿糊、導電性塑膠、導電性橡膠、導電性薄膜、靜電材料、EMI屏蔽材料、導電纖維、導電陶瓷、半導體材料、LCD、TFT、ITO玻璃、晶元、手機外殼、手提電腦外殼、磁碟片…等

顯示器:

7.5吋彩色可觸控液晶螢幕,[Ω], [Ω/sq.], and [Ω‧cm]一觸直讀數據

測定範圍:

10-4~107Ω

測定精度:

±0.5%

儲存數據:

USB flash memory

樣品保護功能:

測定電壓 10V及 90V可選定切換

尺寸:

約 320 W× 285 D× 110 Hmm, 2.4KG

 

標準配備

 

ASP探頭

ASP探頭 MCP-TP03P(RMH110)《四探針探頭》

利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應,
Pin間 5mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支,

 

 

 

ASP, ESP之探頭檢驗片

MCP-TRF1 (RMH304)探頭檢驗片

ASP, ESP, LSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 

 

 

選購品


 

ESP探頭

ESP探頭 MCP-TPO8P(RMH114)《四探針探頭》

不均一樣品用
Pin間 5mm,Pin尖 2mm×4支,壓力 240g/支,


 

PSP探頭

PSP探頭 MCP-TP06P(RMH112)《四探針探頭》

小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支,


 

QPP探頭

QP2探頭 MCP-TPQP2(RMH119)《四探針探頭》

微小樣品用
Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支,


 

TFP探頭

TFP探頭 MCP-TFP(RMJ217)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Thin films on Si wafer用 
Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支


 

NSCP探頭

NSCP探頭 MCP-NSCP(RMJ202)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Silicone wafer用 
Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支


 

BSP探頭

BSP探頭 MCP-TP05P(RMH111)《四探針探頭, 特殊用探頭》

大樣品用
Pin間 2.5mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支


 

TFP探頭

LSP探頭 MCP-TPLSP(RMH116)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Soft surface samples
Pin間 5.0mm,Pin尖 2mm×4支,壓力 130g/支


 

A探頭

AP2探頭 MCP-TPAP2 (RMH333)《二探針探頭》

 


 

B探頭

BP探頭 MCP-TPBP(RMH118)《二探針探頭》

大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支


 

PSP之探頭檢驗片

MCP-TRPS(RMH311) 探頭檢驗片

PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRTF(RMH312) 探頭檢驗片

TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRT2 (RMH335) 探頭檢驗片

AP2,BP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRQP2 (RMH313) 探頭檢驗片

QP2探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)


 

腳踏開關

MCP-FS02 (RMJ802) 腳踏開關


 

絕緣板UFL

MCP-ST03(RMJ354) 絕緣板UFL

尺寸 300W×200L×10Hmm


 

 

低阻抗計;低阻計;阻抗計;阻抗分析儀;阻抗量測設備;阻抗率計;高阻抗率;低阻抗率計;


 MCP-T700 Loresta-GX

Accurate and quick measurement of materials’ resistivity 4 Terminal 4 Pin Method

High accuracy with eliminating contact resistance between sample and probe and lead wire’s resistance

MCP Probes’ spring contact method keeps constant pin pitch, pressure and contact area on samples

低阻抗率計GP MCP-T610型

 

 Standard Configuration

Type of Measurement

MCP-T700 Loresta-GX

Features

Expanded measuring range:0.001×10-4~9.999×107Ω

Operability on 7.5 inch color LCD touch screen

One-touch operation :Automatic measurement with functional Auto-hold and Timer Mode

Silicon Mode for silicon wafer measurement

Low conductive materials are acceptable by Selectable Applied Current Function

Current polarity reversing makes stable measurement

Applications

Conductive paint, Conductive ink, Conductive paste, Resistive paste(carbon etc.), Conductive plastics,

 

 

 

 Standard equipment

 

ASP探頭

ASP MCP-TP03P (p/n RMH110)

Standard, Pin Interval 5mm,

Pin Top 0.37R ×4 pins

Pushing Pressure 210g/Pin

 

 

 

ASP, ESP之探頭檢驗片

MCP-TRF1 (p/n RMH304)

Linear 4 Pins, 1Ω

For ASP, ESP, LSP Probes

 

 

 

 

 Option


 

ESP探頭

ESP MCP-TP08P (p/n RMH114)

For non homogeneous samples,

Pin Interval 5mm,

Pin Top ψ2 × 4 pins

Pushing Pressure 240g/Pin


 

PSP探頭

PSP MCP-TP06P (p/n RMH112)

For small samples,

Pin Pitch 1.5mm,

Pin Points 0.26R × 4 pins

Spring pressure 70g/Pin


 

QPP探頭

QP2 MCP-TPQP2 (RMH119)

For very small samples,

Pin pitch 1.5mm

Pin points 0.26R × 4pins

Spring pressure 70g/pin


 

NSCP探頭

TFP MCP-TFP (PMJ217)

For thin films on Si Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.15 × 4pins

Spring pressure 50g/pin


 

NSCP探頭

NSCP MCP-NSCP (PMJ202)

For Silicon Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.04 × 4pins

Spring pressure 250g/pin


 

BSP探頭

BSP MCP-TP05P(RMH111)

For very large samples,

Pin pitch 2.5mm

Pin points 0.37R × 4pins

Spring pressure 210g/pin


 

TFP探頭

LSP MCP-TPLSP (RMH116)

For soft surface samples,

Pin pitch 5mm

Pin top hemisphere

2mm × 4pins

Spring pressure 130g/pin


 

A探頭

AP2 MCP-TPAP2 (RMH333)

 


 

B探頭

BP MCP-TPBP (p/n RMH118)

Resistance by 2 parts: Each part has apin,

In interval free,

Pin top ψ2 × 2 pins

Pushing pressure 240g/Pin


 

PSP之探頭檢驗片

MCP-TRPS (p/n RMH311)

Linear 4 Pins, 1Ω,

for PSP probe


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRTF (p/n RMH312)

TFP, NSCP


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRT2 (p/n RMH335)

2 Pins, 1Ω,

For AP2 probes


 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRQP2 (p/n RMH313)

4 Pins, 1Ω,

For QP2 probes


 

腳踏開關

MCP-FS02 (p/n RMJ802)


 

絕緣板UFL

MCP-ST03 (p/n RMJ354) UFL

300W×200L×10Hmm

Probe should be placed perpendicularly on samples.


 

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