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【特點】 具有適合測量透明度的光學條件,如塑料,薄膜,負玻璃等,以及半透明的眼鏡鏡片彎曲體。 對反射光和透射光進行分光光度測量。 基於JIS K 7105的測試方法。
【規格】 TC - 1800 mK - Ⅱ,配置·測量項目·軟體配件很常見。 非常適用於擴散板的光譜測量。
【特長】
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