JEOL 日本電子株式會社
‧	穿透式電子顯微鏡( TEM, Transmission Electron Microscope )
‧	掃描式電子顯微鏡 (SEM, Scanning Electron Microscope)
‧	電子微探儀(EPMA, Electron Probe Microanalysis )
‧	掃描式歐傑電子顯微鏡(SAM, Scanning Auger Microscope)
‧	化學分析電子光譜儀(ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)
‧	掃描探針顯微鏡(SPM, Scanning Probe Microscope)
‧	其他化學儀器(如EDXRF, GC-MS,NMR等)
美國GATAN公司
‧	TEM試片離子減薄機 (PIPS, Precision Ion Polishing System)
‧	SEM 試片蝕刻鍍膜機 (PECS, Precision Etching Coating System)
‧	TEM 數位影像CCD
‧	電子能量損失光譜儀(EELS, Electron Energy Loss Spectrometer)
‧	陰極發光光譜儀(CL, Cathode Luminescence spectrometer)
‧	冷/熱SEM 試樣台(Cooling/Heating stage for SEM)
‧	TEM 試片座(TEM holder)
英國OXFORD公司
‧	能量分散式光譜儀(EDS, Energy Dispersive Spectrometer）
‧	波長分散式光譜儀(WDS, Wave length Dispersive Spectrometer）
‧	電子背散射繞射分析儀(EBSD, Electron Backscattering Diffraction Analyzer)
美國SPI公司
‧	各式標準片
‧	TEM, SEM耗材
‧	鍍碳鍍金機

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